Produto

P2538000 – Métodos Básicos em Imaginologia

P2538000

Métodos Básicos em Imaginologia de Micro e Nanoestruturas com Microscópio de Força Atômica (AFM)

Product Description

Principais assuntos abordados

• Microscopia de Força Atômica (AFM);
• Potencial de Lennard-Jones;
• Imagem de nano estruturas;
• Modo de Força Estática;
• Modo de Força Dinâmica;
• Loop de feedback;
• Força; e,
• Amplitude vibracional.

Sistema compacto, fácil de usar para visualizar e capturar imagem de estruturas em escala de micro e nanômetros. Desenvolvido para realizar medidas estáveis e com propósitos educacionais de cursos práticos e laboratórios em física, química, ciências da vida e ciências dos materiais. Também disponível para determinar características de materiais (por exemplo, rigidez, dureza, magnetização, carga, material e contraste de fase) e manipulação (por exemplo, litografia), e muito mais.

Princípio

A aproximação de uma ponta afiada de silício montada em um cantilever até uma superfície de amostra leva a uma interação de escala atômica. O resultado é uma curva do cantilever que é detectada por um laser. No modo estático, a deflexão resultante é usada para investigar a topografia da superfície da amostra linha por linha usando um loop de feedback. No modo dinâmico, o cantilever é oscilado em frequência fixa, resultando em uma amplitude amortecida perto da superfície. Os parâmetros de medição (ponto de ajuste, ganho de realimentação) desempenham um papel crucial na qualidade da imagem. Seu efeito na qualidade da imagem é investigado para diferentes amostras nanoestruturadas.

Benefícios

Experimentos perfeitamente aplicáveis aos cursos de Engenharia dos Materiais, Engenharia Física e Bacharelado em Física e Química

Investigação no modo estático e dinâmico

Modificação de vários parâmetros para otimizar a qualidade da imagem

Realize experimentos com amostras diferentes

Excelente relação preço-desempenho

Projetado para uso em laboratórios de ensino

O microscópio consiste em um instrumento compacto e portátil, sem necessidade de instrumentos adicionais.

Vibração isolada para resultados melhores e reproduzíveis

Tarefas

-Aprenda a montar um cantilever (com ponta) e aproxime-a em direção a uma amostra.

-Investigue a influência dos parâmetros de digitalização na qualidade e no desempenho da imagem, por exemplo, Ganho PID, ponto de ajuste (força), amplitude vibracional e velocidade de varredura. Use o modo de força estática e dinâmica.

-Imagem de diferentes amostras (microestruturas, nanotubos de carbono, seção transversal da pele, bactérias, estampador de CD, estrutura de cavacos, contas de vidro) otimizando os parâmetros respectivamente.

Tópicos que se pode abordar

Microscopia de Força Atômica (AFM)

Potencial de Lennard-Jones

Imagem de nanoestruturas

Modo de força estática

Modo de força dinâmica

Loop de feedback

Força atômica

Amplitude vibracional

Software incluído