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Inserir no projeto09700-99Microscópio de Força Atômica

Compacto e fácil de usar para visualizar e capturar imagem de estruturas em escala de micro e nanômetros. Desenvolvido para propósitos educacionais de cursos práticos e laboratórios de pré-pesquisa em física, química, ciências da vida e ciências dos materiais. Também disponível para determinar características de materiais (por exemplo, rigidez, dureza, magnetização, carga, material e contraste de fase) e manipulação (por exemplo, litografia), e muito mais.

Opcionais:

09701-00: Upgrade para contraste de fase, EFM, MFM, modulação de força, resistência de espalhamento;

09702-00: Upgrade para manipulação e espectroscopia;

09760-00: Mesa antivibração ativa; e,

09750-00: Câmera digital.

Características:

• Completo, incluindo amostras, cantilever, ferramentas e consumíveis;

• Substituição e operação do cantilever fácil e segura;

• Câmera digital para auxiliar no posicionamento e aproximação;

• Compacto em um único dispositivo para medidas mais estáveis; e,

• Tensão de operação baixa para segurança do usuário.

Especificações técnicas:

• Interface: USB 2.0;

• Conversores DA / AD: 16 bits;

• Máxima velocidade de varredura: 60 ms por linha;

• Máxima amostragem: até 2048 x 2048 pontos de dados;

• Tipo de varredura: linear;

• Máxima faixa de varredura: 70 μm ± 10%;

• Máxima alcance em Z: 14 μm;

• Resolução XYZ: 1.1 nm;

• Alinhamento do cantilever: automático;

• Iluminação da amostra: LED branco;

• Sistema de câmera: colorido digital, 3.1 Mpixels, zoom;

• Dimensões: 210 mm x 210 mm x 180 mm; e,

• Peso: Aprox. 10 kg (incluindo maleta).

 

 

Microscópio de Força Atômica (AFM) Compacto

Microscopia por sonda de varredura para propósitos educacionais em física, química, ciências da vida e ciências dos materiais.

É um dos métodos de pesquisa mais comum em micro e nano escala. Entre as áreas de aplicações está a garantia da qualidade durante a produção de componentes e superfícies nano-estruturadas. Para o uso e expansão eficiente deste progresso tecnológico, o treinamento dos alunos nas escolas e universidades nestes métodos complexos tem um papel muito importante.

O microscópio de força atômica da Phywe é caracterizado pelo seu projeto particularmente compacto com uma unidade de controle integrada, mesa XY, sistema de isolação de vibração e blindagem contra fontes de interferência como som e fluxo de ar. Graças a sua operação fácil e confortável e ao software “measureNANO” para medidas, avaliações e visualização, o dispositivo é apropriado para inúmeras áreas de aplicações, por exemplo, como unidade de demonstração ou para cursos práticos em escolas, universidades e centros de pesquisa.

Ajustes no laser e no detector não são necessários, simplesmente desembale, conecte-o, instale o cantilever e então comece as suas medidas.

As opções de medidas da versão básica (força estática, força dinâmica, espectroscopia simples) podem ser expandidas com pacotes opcionais. Além das medidas de contraste de fase e das medidas magnética e eletrostática, métodos de manipulação e espectroscopia avançadas também estão disponíveis.